檢定預定自2027年2月起，以英文、繁體中文及葡萄牙文實施。官方指南入門級的繁體中文電子書已在 Amazon 上架（另有英文版、葡萄牙文版）；實務級預定於2026年12月中旬發行日文版。
Sensor Makers / 感測器製造商一覽
分光干涉式位移計製造商一覽
分光干涉式位移計會照射寬波長範圍的光，將反射光的干涉依波長分離並加以解析，精細量測距離與厚度。用於量測薄膜及玻璃的厚度，以及精密的位移量測。
- 刊載家數
- 23 家（日本國內外）
- 原理說明
- 官方指南 Lesson 29
- 與檢定的關係
- 屬於センサ実務検定（感測器實務檢定）的出題範圍
日本7 家
| 公司名稱 | 總公司 | 經確認的產品 | 方式 |
|---|---|---|---|
| JFEテクノリサーチ株式会社 | 日本 | FiDiCa | 分光干涉 |
| santec株式会社 | 日本 | TMS-2000 | 波長掃描干涉 |
| 株式会社SCREENセミコンダクターソリューションズ | 日本 | VM-1200、VM-1300、VM-2500、VM-3500 | 分光反射率（膜厚） |
| 株式会社キーエンス | 日本 | SI-F、SI-T | 分光干涉 |
| 株式会社ニレコ | 日本 | BFS | 光外差 |
| 大塚電子株式会社 | 日本 | SF-3、組込み型膜厚モニター、ラインスキャン膜厚計 | 分光干涉 |
| 浜松ホトニクス株式会社 | 日本 | Optical MicroGauge、Multipoint NanoGauge | — |
亞洲2 家
| 公司名稱 | 總公司 | 經確認的產品 | 方式 |
|---|---|---|---|
| LightE-Technology（深圳立仪科技） | 中國 | METAFLIN-W | — |
| Suzhou Tronsight Intelligent Technology（苏州创视智能技术） | 中國 | TS-I | 分光干涉 |
歐洲3 家
| 公司名稱 | 總公司 | 經確認的產品 | 方式 |
|---|---|---|---|
| Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co. KG | 德國 | interferoMETER | — |
| Precitec | 德國 | CHRocodile | — |
| ThetaMetrisis | 希臘 | FR-ES、FR-Mini、FR-Pro、FR-Scanner、FR-InLine | 分光反射率（膜厚） |
美洲11 家
| 公司名稱 | 總公司 | 經確認的產品 | 方式 |
|---|---|---|---|
| Aeva | 美國 | Eve 1D | 光外差 |
| Angstrom Sun Technologies | 美國 | SR Series、TFProbe | 分光反射率（膜厚） |
| Bristol Instruments | 美國 | 157 Series、137 Series | — |
| Bruker | 美國 | FilmTek | — |
| IPG Photonics | 美國 | LDD-700 | — |
| KLA Corporation | 美國 | Filmetrics | 分光反射率（膜厚） |
| Lumetrics, Inc. | 美國 | OptiGauge、LUMOS-V、STMS | — |
| Novacam Technologies | 加拿大 | MICROCAM | — |
| Semiconsoft | 美國 | MProbe | — |
| Sensory Analytics（SpecMetrix） | 美國 | SpecMetrix | 分光干涉 |
| StellarNet | 美國 | 膜厚計測システム | 分光反射率（膜厚） |
刊載標準
- 候選名單不分日本國內外，廣泛蒐集自展覽會參展商資訊、產業團體公開資訊、產品資訊網站等公開資訊。其中僅刊載已在各公司官方網站確認有相關產品的製造商（不含貿易商及經銷商）。
- 本一覽並未涵蓋所有製造商。如希望刊載或修正內容，請透過刊載申請／修正表單提出。
- 各地區內的刊載順序不分先後，並不代表任何評價或推薦。
- 本一覽以裝設於生產線或設備中使用的產品為對象，不包含在量測室等處使用的專用量測機，以及手持式量測工具。
- 資訊確認日期：2026年10月14日
- 所刊載的公司名稱與產品名稱，為各公司之商標或註冊商標。